Quattro SEM為具有環境真空功能的極靈活、多功能分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態下進行。

     Quattro的場發射電子槍（FEG）確保了優異的分辨率，通過不同的探測器選項，可以調節不同襯度信息，包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。來自多個多個探測器和探測器區分的圖像可以同步采集和顯示，使得單次掃描即可獲得樣品信息，從而降低電子束敏感樣品的束曝光并實現真正額動態試驗。Quattro的三種真空模式使得系統有靈活性，可以容納廣泛的樣品類型，無論樣品導電、絕緣、潮濕或是在高溫條件下，均可獲得可靠的分析結果。Quattro硬件有用戶向導支持，可以指導操作者，還可以直接進行交換，輕松縮短結果獲取時間。

     金屬及合金、斷口、焊點、拋光斷面、磁性及超導材料

     陶瓷、復合材料、塑料

     薄膜/涂層

     地質樣品斷面、礦物

     軟材料：聚合物、藥物、濾膜、凝膠、生物組織、植物材料

     顆粒、多孔材料、纖維

     水合/脫水/濕潤/接觸角分析

     結晶/相變

     氧化/催化

     材料生成

     拉伸（伴隨加熱或冷卻）

     發射源：高穩定型肖特基場發射電子槍

     分辨率：

放大倍率：6 ~ 2,500,000×
加速電壓范圍：200 V ~ 30 kV
著陸電壓：20 eV~30 keV，電子束減速可選
探針電流范圍：1 pA ~ 200 nA，連續可調

X-Ray工作距離：10mm，EDS檢出角35°
樣品室：從左至右為340mm寬的大存儲空間，樣品室可拓展接口數量12個，含能譜儀接口3個（其中2個處于180°對角位置）

樣品臺和樣品：

探測器系統：

同步檢測多達四種信號，包括

樣品室高真空二次電子探測器ETD
低真空二次電子探測器LVD
氣體SED（GSED，用于環境掃描模式）
樣品室內IR-CCD紅外相機（觀察樣品臺高度）
樣品導航彩色光學相機Nav-Cam™
珀爾帖臺集成式STEM，用于觀察濕薄樣品- WetSTEM™

控制系統：
操作系統：64位GUI（Windows 7）、鍵盤、光學鼠標
圖像顯示：24寸LCD顯示器，WUXGA 1920×1200
定制化的圖像用戶界面，可同時 ji活多達四個視圖
導航蒙太奇
軟件支持Undo和Redo功能

在自然狀態下對材料進行預案為研究，具有環境真空模式（ESEM）的高分辨率場發射掃描電鏡；

可程度縮短樣品制備時間：低真空和環境真空技術可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析，樣品表面無荷電累積；

在各種操作模式下分析導電和不導電樣品，同步獲取二次電子像和背散射電子像；

分析性能好，樣品倉可同時安裝3三個EDS探測器，其中2個EDS端口分開180°、WDS和共勉EDS/EBSD;

針對不導電樣品的分析性能：憑借“壓差真空系統”實現低真空模式下的精確EDS和EBSD分析；

靈活、精確的優中心樣品臺，105°傾斜角度范圍，可全 方位觀察樣品；

軟件直觀、簡便易用，并配置用戶向導及Undo（撤銷）功能，操作步驟減少，分析更快速；

全新創新選項，包括可伸縮RGB陰極熒光（CL）探測器、1100℃高真空熱臺和AutoScript；